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TXRF 3760 系列日本理學(xué)RIGAKUT 全內(nèi)反射 X 射線熒光光譜儀

更新時間：2025-04-23      瀏覽次數(shù)：64

TXRF 3760 系列

全內(nèi)反射 X 射線熒光光譜儀

對晶圓表面的污染進(jìn)行無損、非接觸式和高靈敏度分析

轉(zhuǎn)子式高功率 X 射線發(fā)生器和新設(shè)計的入射 X 射線單色器

過渡金屬 LLD 10 采用直接 TXRF 測量方法8 原子/厘米2達(dá)到水平。 在封閉 X 射線管測量時間的 1/3 內(nèi)即可實現(xiàn)相同的精度，從而實現(xiàn)高通量。


TXRF 3760 表面污染計量系統(tǒng)


TXRF 3760 規(guī)格

產(chǎn)品名稱TXRF 3760 系列
技術(shù)全內(nèi)反射 X 射線熒光 （TXRF）
用從 Na 到 You 的元素分析以測量晶圓污染
科技帶無液氮檢測器的 3 光束 TXRF 系統(tǒng)
主要組件適用于最大 200 mm 晶圓的 XYθ 樣品臺系統(tǒng)、真空晶圓中的機(jī)器人傳輸系統(tǒng)、ECS/GEM 通信軟件
選擇Sweep TXRF 軟件（能夠映射晶圓表面的污染物分布以識別“熱點"）。 ZEE-TXRF 功能可實現(xiàn)零邊沿排除測量）
控制 （PC）內(nèi)部 PC、MS Windows®作系統(tǒng)
本體尺寸1000 （寬） x 1760 （高） x 948 （深） 毫米
質(zhì)量100 kg（主機(jī)）
權(quán)力三相 200 VAC 50/60 Hz，100 A



電話：TEL

86-010-67868591

地址：ADDRESS

朝陽區(qū)住邦2000商務(wù)樓A座1號樓406B

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